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芯片整体扫描检测
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详细介绍
传感器型号：HD6-0007
测量方法：
·扫描整颗IC，分析平面度，引脚平整度，站高等
测量优势：
·自动补偿物品位置偏移，一键测量，可开发定制测量内容
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